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我們?cè)谟脩舻纳a(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和操作過程中，用戶反映在測(cè)試小值的電感和電容時(shí)，測(cè)量值有一些偏差，而且隨著使用時(shí)間的推移，出現(xiàn)測(cè)量值慢慢增大的現(xiàn)象，我們?cè)谄潆姌蚴褂貌僮鳜F(xiàn)場(chǎng)發(fā)現(xiàn)，有一些用戶忽略了測(cè)試時(shí)關(guān)于排除對(duì)儀器的干擾，保證測(cè)試精度等方面的要求，因?yàn)镻M6306自動(dòng)測(cè)試儀，在用高頻測(cè)試較小的電容或電感時(shí)，其靈敏度是很高，所以應(yīng)盡量減少靜電的干擾，如佩戴防靜電電干擾的護(hù)腕；或者盡量減少自制夾具的分布阻抗來提高儀器的測(cè)試精度等，這些措施是非常必要的。
一般性我們也建議用戶在使用儀器測(cè)試前和測(cè)試過程中每隔4小時(shí)做一次校零的操作，始終保持儀器較高的測(cè)試精度。
現(xiàn)以使用PM9541A
Kelvin四線測(cè)試夾具為例，儀器的校零步驟如下：
1〕插入Kelvin四線測(cè)試夾具，接上電源，然后開機(jī)，儀器進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)。
2〕當(dāng)以某一種固定不變的測(cè)試條件情況下（如在生產(chǎn)中一些固定的工位上，測(cè)試頻率，電壓等條件下不變〕，可以現(xiàn)將測(cè)試條件設(shè)置于機(jī)器內(nèi)部。
3〕按一次儀器前面板的ZERO TRIM鍵。
4〕用面板上的旋鈕選擇TRIM I
5〕再按一次ZERO TRIM鍵
6〕液晶屏幕顯示閃爍的“BUSY Oct”時(shí)，2秒后變成“BUSY Sct”，即提示將測(cè)試夾短接
7〕短接兩測(cè)試夾具
8〕再按一次ZERO TRIM鍵，此時(shí)儀器自動(dòng)校零到測(cè)試夾具的測(cè)試線頂端
9〕幾秒后，儀器短接校零成功，屏幕顯示“PASS”，反之顯示失敗“FAIL”
10〕再一次按下ZERO TRIM鍵，屏幕顯示通過“ BUSY Oct”，提示將測(cè)試夾開路
11〕將短接的測(cè)試夾開路
12〕再按一次ZERO TRIM鍵
13〕幾秒后，儀器開路校零成功，屏幕顯示通過“PASS”，反之顯示失敗“FAIL”
14〕按一下AUTO鍵，進(jìn)入自動(dòng)測(cè)試狀態(tài)
如果測(cè)試條件需要不斷的改變，可以選擇全校零的操作，即儀器會(huì)自動(dòng)將內(nèi)部所有的工作點(diǎn)參數(shù)全部校準(zhǔn)一次，校零的步驟如下：
1〕插入測(cè)試夾具，接上電源，然后開機(jī)，儀器進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)
2〕當(dāng)以某一種固定不變的測(cè)試條件情況下（如在生產(chǎn)中一些固定的工位上，測(cè)試頻率，電壓等條件下不變〕，可以現(xiàn)將測(cè)試條件設(shè)置于機(jī)器內(nèi)部。
3〕按一次儀器前面板的ZERO TRIM鍵。
4〕用面板上的旋鈕選擇TRIM A
5〕再按一次ZERO TRIM鍵
6〕液晶屏幕顯示閃爍的“BUSY Oct”
7〕將測(cè)試夾具開路
8〕再按一次ZERO TRIM鍵，此時(shí)儀器自動(dòng)校零到測(cè)試夾具的測(cè)試線頂端
9〕儀器將有15秒的倒計(jì)時(shí)自動(dòng)開路校零，然后屏幕顯示閃爍的“BUSY Sct”
10〕將測(cè)試夾具短路
11〕再按一次ZERO TRIM鍵
12〕儀器將有15秒的倒計(jì)時(shí)自動(dòng)短路校零
13〕校零成功后，屏幕顯示通過“PASS”，反之顯示失敗“FAIL”
14〕按一下AUTO鍵，進(jìn)入自動(dòng)測(cè)試狀態(tài)
注意事項(xiàng)：
1〕當(dāng)改變測(cè)試條件時(shí)，需要將新的測(cè)試條件設(shè)置到儀器內(nèi)部，重新做一次校零操作。
2〕當(dāng)所處的測(cè)試環(huán)境溫度與校零時(shí)的溫度相差10°c時(shí)，請(qǐng)重新做一次校零操作。
3〕用戶自制的測(cè)試夾具應(yīng)通過測(cè)試線與儀器連接成一體而做的一次短路和開路的校零。
如果用戶自制的測(cè)試夾具所做的短路，開路校零無法通過時(shí)，則表明自制夾具已經(jīng)影響到儀器的零點(diǎn)，不能夠保證儀器的測(cè)試精度0.1%，另用戶注意儀器的電源接地性良好。 |
