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安捷倫科技日前宣布，IDT已經(jīng)購(gòu)買(mǎi)8塊安捷倫的BIST
Assist量產(chǎn)測(cè)試卡，升級(jí)其93000系列SOC測(cè)試系統(tǒng)。通過(guò)本次升級(jí)，IDT能夠在環(huán)回/BIST模式下，測(cè)試速率高達(dá)6.4Gb/s的高速鏈路芯片。
從歷史上看，隨著如電視、機(jī)頂盒和個(gè)人電腦等消費(fèi)類電子產(chǎn)品中接口芯片帶寬的提高，這些接口芯片諸如Serial
ATA(SATA)、光纖通路、高級(jí)內(nèi)存緩沖器(AMB)以及PCI
Express，其測(cè)試成本相應(yīng)會(huì)呈指數(shù)式增加。加之芯片制造商面臨的消費(fèi)類產(chǎn)品的價(jià)格壓力，情況變得更加復(fù)雜。安捷倫推出的內(nèi)建式自測(cè)試(BIST)Assist卡，作為93000系列SOC測(cè)試系統(tǒng)的擴(kuò)展，打破了生產(chǎn)過(guò)程中高速鏈路芯片測(cè)試成本不斷攀升的趨勢(shì)。在高速、量產(chǎn)環(huán)境中，與傳統(tǒng)全速生產(chǎn)測(cè)試方案相比，采用該卡可明顯降低測(cè)試成本。
BIST
Assist卡的功能包括可調(diào)節(jié)的精確的抖動(dòng)注入、直流DC接入能力和全速條件下的電平控制功能。其提供的無(wú)可比擬的性能分析能力，使用戶可在無(wú)需降低質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的情況下實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)測(cè)試。此外，這些功能在BIST或環(huán)回模式下，可靈活、全面地滿足各種應(yīng)用的測(cè)試需求，這些應(yīng)用包括圖像處理、芯片組、交換機(jī)和SerDes設(shè)備等，具體芯片例如SATA、AMB、PCI
Express，以及光纖通道，這些芯片要求以最低的成本，進(jìn)行高故障覆蓋率、高數(shù)據(jù)率的生產(chǎn)測(cè)試。
“BIST卡使我們能夠在同一測(cè)試平臺(tái)上進(jìn)行量產(chǎn)測(cè)試和高速接口芯片的測(cè)試�！�
IDT串行交換分部的Mike Converse說(shuō)，“Agilent
93000和BIST
Assist的結(jié)合，使IDT具備了以低成本對(duì)于高速鏈路接口芯片進(jìn)行分析測(cè)試和量產(chǎn)測(cè)試的能力，加快了我們產(chǎn)品的上市周期。”
“獲悉我們的產(chǎn)品能夠幫助IDT繼續(xù)開(kāi)發(fā)完整的解決方案，滿足其客戶對(duì)于產(chǎn)品上市時(shí)間的需求，我們深感榮幸�！�
安捷倫半導(dǎo)體測(cè)試解決方案事業(yè)部副總裁兼總經(jīng)理Tom
Newsom說(shuō)，“隨著鏈路產(chǎn)品速度的不斷提高，安捷倫BIST
Assist卡將持續(xù)成為IDT的一項(xiàng)安全投資，保障在量產(chǎn)制造環(huán)境中提供廣泛的故障覆蓋率�！�
Agilent 93000
SoC系列是可升級(jí)的測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)，全球裝機(jī)量已經(jīng)超過(guò)950套。此系列的推出，是為了滿足SOC芯片測(cè)試對(duì)于測(cè)試機(jī)性能上的苛刻要求以及價(jià)格上的嚴(yán)酷挑戰(zhàn)。通過(guò)配置多種模塊，該系統(tǒng)可以涵蓋極為廣泛的應(yīng)用需求，從數(shù)據(jù)率高達(dá)10Gb/s的超高速數(shù)字應(yīng)用，到多種多樣的混合信號(hào)應(yīng)用，直至RF射頻應(yīng)用。 |
