前提：此測(cè)試方式僅用于IC且內(nèi)部必須要有保護(hù)二極管者方可使用。
原理分析：
1：當(dāng)IC1內(nèi)部有保護(hù)二極管時(shí)，以電表測(cè)試我們會(huì)發(fā)現(xiàn)IC1每一支腳對(duì)GND都會(huì)有0.7V壓，所以用二極管測(cè)試方法即可，但是如果有與其它IC并聯(lián)時(shí)便無(wú)法測(cè)出IC腳是否OPEN，如圖二當(dāng)IC1
A點(diǎn)OPEN或IC2
A點(diǎn)OPEN皆會(huì)量測(cè)出0.7V故無(wú)法測(cè)試出來(lái)。
2：使用IC
SCAN便可解決上述之問(wèn)題。其原理如下：(圖三)
當(dāng)要測(cè)試IC1
A點(diǎn)是否OPEN時(shí)，先在A點(diǎn)送一電壓量出一電流I，而I為IC1與IC2二者電流相加。在IC1找另外一支腳B送一電壓。讓I1之電流變小。則I亦會(huì)變小，這表示IC1之A點(diǎn)正常，反之如果I電流不變則表示
IC1之A點(diǎn)有OPEN之現(xiàn)象。
