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ICT測(cè)試治具（ict fixture）

電腦主板測(cè)試治具

功能治具（function fixture）

ATE治具（ate fixture）

五金治具h(yuǎn)d fixture

氣動(dòng)治具

數(shù)碼相機(jī)測(cè)試治具

DVD、CD機(jī)測(cè)試治具

組裝治具

工裝夾具

過錫爐治具(套板)(pcb solder pallet fixture )

合成石過爐治具（托盤）

BGA測(cè)試治具

CCD測(cè)試治具ccd fixture

BGA測(cè)試治具相關(guān)資料

ICT治具制作所需資料

功能測(cè)試(Functional Tester)

自動(dòng)光學(xué)檢查AOI (Automatic Optical Inspection)

手板模型

噴油銅模（噴涂治具）

德律ict在線測(cè)試儀TR-518FR

德律ict在線測(cè)試儀TR-518FE

德律ict測(cè)試機(jī)TR-8001

德律ict在線測(cè)試儀TR-518FI

捷智ict在線測(cè)試儀JET-300

捷智ict在線測(cè)試儀JET-300I
電測(cè)治具設(shè)計(jì)原則及注意事項(xiàng)

PCB治具設(shè)計(jì)、制造和管理
減少DDR記憶體驗(yàn)負(fù)載的探測(cè)技術(shù)
嵌入式測(cè)試方案及高速測(cè)試技術(shù)
半導(dǎo)體封裝測(cè)試廠庫(kù)存控制系統(tǒng)的研究
晶圓級(jí)可靠性測(cè)試：器件開發(fā)的關(guān)鍵步驟
IC測(cè)試原理-存儲(chǔ)器和邏輯芯片的測(cè)試
適用于高電壓測(cè)試的電容器分選機(jī)
晶圓邊緣的檢測(cè)
常用信號(hào)完整性的測(cè)試手段和在設(shè)計(jì)的應(yīng)用
A/D變換器對(duì)動(dòng)態(tài)范圍的影響
運(yùn)算放大器和電壓比較器測(cè)試技術(shù)的實(shí)踐應(yīng)用
IC測(cè)試原理
基于邊界掃描的邏輯簇測(cè)試診斷軟件開發(fā)
BGA 檢測(cè)技術(shù)與質(zhì)量控制
使用Sapphire S系列D－3208選件卡來應(yīng)對(duì)…
EDA Linkage從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的整體解決方案
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的關(guān)鍵問題之一
移動(dòng)通信存儲(chǔ)MCP器件的最終測(cè)試及其有效…
LCD Driver測(cè)試技術(shù)
用于混合信號(hào)系統(tǒng)的模/數(shù)分塊一體化測(cè)試技術(shù)
探求提高軍用電子元器件質(zhì)量檢測(cè)能力的途徑

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